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紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-NIR硫系,紅外樹(shù)脂等材料對(duì)可見(jiàn)光不透過(guò),這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x,采用850nm或940nm波長(zhǎng),能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
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應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會(huì)造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機(jī)所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產(chǎn)過(guò)程中*的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項(xiàng)測(cè)量。
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注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。
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內(nèi)應(yīng)力測(cè)量?jī)xPA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。
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雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。
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雙折射測(cè)量?jī)xPA-Micro操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無(wú)遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較。維護(hù)簡(jiǎn)單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。