紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)

• 型 號(hào)：WPA-NIR
• 訪問次數(shù)：3417
• 更新時(shí)間：2024-09-03
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紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x，采用850nm或940nm波長(zhǎng)，能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。

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紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)主要特點(diǎn)：

硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x，采用850nm或940nm波長(zhǎng)，能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。

• 紅外波長(zhǎng)的雙折射/相位差面分布測(cè)量

• 硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變?cè)u(píng)估

• 小型、簡(jiǎn)単操作、高速測(cè)量

• WPA-NIR能高速的測(cè)量/分析波長(zhǎng)為850nm或940nm的雙折射分布

• 安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View

• 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)

• 可搭配流水線對(duì)應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)

紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)主要功能：

• NIR波長(zhǎng)僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

• 測(cè)量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡(jiǎn)單快捷

• 全部的測(cè)量結(jié)果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測(cè)量結(jié)果做比較等

• 豐富的圖形創(chuàng)建功能

• 可以自由制作線圖形和直方圖

• 測(cè)量結(jié)果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出  

主要參數(shù)：

實(shí)際測(cè)量對(duì)比：