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online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage

型號：
訪問次數(shù)：2342
更新時間：2024-09-03
價格：

online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù)，以進行進一步詳細分析。

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Photron集團公司是日本大型相機，視頻，軟件控制供應商，其旗下的高速/超高速攝像機業(yè)務應用非常廣泛，歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域

online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage應用領(lǐng)域：

相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
樹脂成型
玻璃

online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage技術(shù)參數(shù)：

項次	項目	具體參數(shù)
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】

2	測量波長	543nm（支持客制化）

3	雙折射測量范圍	0-260nm（支持客制化）

4	主軸方位范圍	0-180°

5	測量重復精度	<1nm（西格瑪）

6	測量尺寸	A4(標準)

7	定制選項	可定制大載臺

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