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應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,Z適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)產(chǎn)品簡介
WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。
該產(chǎn)品在測量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布??蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L特點(diǎn)
u 操作簡單,測量速度可以快到3秒,
u 采用CCD Camera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。
u 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
u 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
u 維護(hù)簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L主要應(yīng)用
· 光學(xué)零件(鏡片、薄膜、導(dǎo)光板)
· 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)
· 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL)
· 透明基板(玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石)
· 有機(jī)材料(球晶、FishEve)
參數(shù)指標(biāo)
型號(hào) | WPA-200 | WPA-200-L |
測量范圍 | 0~30OOnm | |
重復(fù)性 | <1.0nm | |
像素?cái)?shù) | 384×288(≒11萬)pixels | |
測量波長 | 523nm,543nm,575nm | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀測到的大面積 | 24×32 mm ~ 100×133mm | 33×44 mm ~ 240×320mm |
重量 | 13kg | 23kg |
數(shù)據(jù)接口 | GigE(攝像機(jī)信號(hào)) RS232C(電機(jī)控制) | |
電壓電流 | AC100-240V(50/60Hz) | |
軟件 | WPA-View |