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應(yīng)力雙折射又稱光彈性效應(yīng)。透明的各向同性的介質(zhì)在壓力或張力的作用下，折射率特性會發(fā)生改變，從而顯示出光學(xué)上的各向異性。若介質(zhì)本來就是各向異性晶體，則外力作用會使它產(chǎn)生一個附加的雙折射。塞貝克在1813年和布儒斯特在1816年zui早研究這一現(xiàn)象。對物體旅以壓力或張力，它就顯示出負(fù)單軸晶體或正單軸晶體的特性，有效光軸在應(yīng)力方向上，并且所引起的雙折射與應(yīng)力成正比。若應(yīng)力在晶體上是不均勻的，在各處的雙折射就不一致，使通過它的光波上不同點(diǎn)產(chǎn)生不同的位相差。利用應(yīng)力雙折射效應(yīng)，可以檢驗(yàn)光學(xué)材料的內(nèi)應(yīng)力，觀察各種力學(xué)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力分布。
利用應(yīng)力雙折射研究應(yīng)力分布的儀器稱為光測彈性儀，這種方法目前已發(fā)展成為一門專門的學(xué)科。稱為光測彈性學(xué)，它廣泛應(yīng)用于材料力學(xué)的測量中。對機(jī)械結(jié)構(gòu)中一些形狀復(fù)雜的部件。承受不同負(fù)荷時的應(yīng)力分布是很復(fù)雜的。我們可以用透明材料制成相應(yīng)的模型，并按實(shí)際使用時的受力情況對模型施以機(jī)械力，利用偏振光干涉裝置，就可分析應(yīng)力分布。利用全息光測彈性技術(shù)，可觀察和分析樣品的乏維應(yīng)力分布
理想的光學(xué)玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不一致，或者退火爐內(nèi)各處溫度不一致等都會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力的存在，破壞了各向同性，產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，即內(nèi)部應(yīng)力的分布現(xiàn)象，現(xiàn)在利用測量雙折射現(xiàn)象來改進(jìn)光學(xué)玻璃的生產(chǎn)工藝，以及用來對光學(xué)玻璃的質(zhì)量控制，成為世界主流光學(xué)玻璃廠商的手段。
以下為大家介紹一款市場主流的雙折射測量設(shè)備，其測量原理就是利用光彈性效應(yīng)，通過*的光子晶體技術(shù)，在的時間內(nèi)給出整個樣品的雙折射測量結(jié)果，通過軟件的結(jié)合，可以zui終呈現(xiàn)給用戶直觀的樣品測量報(bào)告。
1， 光子晶體
簡單的來說就是偏光片的組合陣列，每一個小偏光片的大小是5um×5um，在整個陣列中又分為很多偏光組，每一組由四個不同偏光角度的偏光片組成。
2， 偏光影像傳感器
將光子晶體和CCD傳感器上每一個像素單元一一對應(yīng)，這樣組合的偏光相機(jī)，拍攝觀測物就可以在極短的時間內(nèi)的到觀測物體的雙折射數(shù)據(jù)。
3， 的測量
利用*的偏光影像傳感器再結(jié)合相對應(yīng)的軟件系統(tǒng)，測量速度可以達(dá)到3秒，測量結(jié)果2D顯示，圖像與圖表的結(jié)合，是使用者更直觀的了解觀測物的雙折射現(xiàn)象。
4，下面我們就對3D手機(jī)面板的測量結(jié)果進(jìn)行一個展示。
1) 線分析
如上圖，在圖的左邊的樣品圖中間的位置，取一條線，圖的右半部份的折線圖表就是表示的這條線上的雙折射的變化，折線圖下方還有關(guān)于這條線上雙折射zui大zui小值，平均值以及誤差值的表格。
2) 區(qū)域分析
可任選一個區(qū)域，并對同一個樣品的不同區(qū)域進(jìn)行對比。
也可以對不同樣品的測試結(jié)果的區(qū)域進(jìn)行選取，來比對不同工藝的效果。
